Hitachi高科技分析科学扩展了具有高分辨率检测器的X-STRATA920功能

日立高科技分析科学扩大了已建立的能力X-STRATA920 XRF涂料分析仪包括新的高分辨率检测器和新的样本阶段配置。

Hitachi Hitch-Tech XRF涂料系列已成功地测量了40多年的电子和一般金属饰面行业的涂料厚度。X-STRATA920确保涂层符合所需的规格，并最大程度地减少过量涂层或废弃倒数材料的废物。随着X-Strata功能的扩展，用户可以使用此乐器做更多的事情。

这种新的X-strata意味着可以定制该仪器以实现最佳性能，并提供高分辨率硅漂移检测器（SDD）或比例计数器的选项。此外，它现在有四个腔室和基础配置来处理大量样品形状和尺寸，包括在汽车行业中发现的复杂几何形状。

SDD可以为复杂的涂层结构提供优于比例计数器的优势，因为它可以更轻松地分析具有相似XRF特性的元素，例如镍和铜。这扩展了可以分析的元素范围，包括磷，对电镍分析至关重要，并且可以更精确地测量薄涂层，例如符合IPC-4552A时的纳米计范围中的金涂层。

日立产品业务开发经理Matt Kreiner表示：“ X-STRATA920以及日立高科技系列中的其他XRF仪器以未来的证明，可靠且易于使用而闻名。添加SDD和广泛基础的选项为我们的客户提供了更大的分析能力和灵活性，以测量各种零件上的复杂涂料。我们保留了高度直观的SmartLink软件，以便任何操作员，无论经验水平如何，都可以快速学习使用该仪器并获得准确，可靠的结果。我们的涂料产品包括Advanced FT150 Microspot分析仪，手持XRF和允许快速便携式分析的CMI计量仪，已有40多年的历史可以提供涂料测量，我们很高兴能够提供这些改进。”