多模态原位实验室扫描电镜集成解决方案

蔡司正在介绍其全新的现场集成蔡司场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)工作流程。当研究人员需要将材料性能与微观结构联系起来(这对于高效开发新材料至关重要)时，他们现在可以扩展蔡司FE-SEM的原位溶液，用于加热和拉伸实验。这使得他们能够自动观察金属、合金、聚合物、塑料、复合材料和陶瓷等材料在热和拉的情况下，同时绘制动态应力应变曲线。他们可以通过一个统一的软件环境从一台PC机控制所有系统组件，可以实现长达24小时的无人值守自动化材料测试。学术界、政府和工业界的核心成像设施和材料研究实验室将同样受益于这种新的解决方案。

在SEM现场材料测试提供了精确的测量微观结构对特定温度条件下机械负载的动态响应。得益于蔡司双子电子光学的设计，现场硬件的集成非常直接。材料科学家可以很容易雷电竞网址地使用组合分析技术(如EDS和EBSD)添加信息，如局部化学成分或晶体学取向。例如，所有蔡司fe - sem都可以插入蔡司ZEN核心生态系统，使用户可以访问ZEN Connect、ZEN Intellesis和ZEN的分析模块。

蔡司研究显微镜解决方案负责人Michael Albiez博士评论道:“在单一自动化、用户独立的实验环境中量化材料微观结构和大块力学性能的能力，为研究人员设计未来低碳经济的下一代材料提供了必要的工具。现场实验室不仅完全集成，而且还包括服务和应用程序支持。我们的解决方案的独特之处在于，用户可以定义多个感兴趣的区域(roi)，因此可以确保永远不会错过他们感兴趣的样本区域。”

该解决方案可立即升级现有蔡司GeminiSEM 360 & 460和蔡司西格玛500显微镜，或可购买与新系统。

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