Duetta™-荧光的未来

的HORIBADuetta一分之二光谱仪是彻底改变荧光光谱。它可以用作荧光计,UV-Vis-NIR光谱仪测量吸光度,或一个系统,通过同步措施真正的分子指纹采集的荧光和吸收。

荧光光谱是获得在一个单一的,一个多通道CCD探测器没有耗时的wavelength-by-wavelength扫描。因此,可以生成全程光谱在50微秒,比典型的荧光系统快100倍。这个速度是一个明显的优势当收集激发发射矩阵(eem),即多个一系列激发波长的发射光谱。CCD探测器的优势是更广泛的波长范围比通常发现桌上型仪器,延伸1100海里。

这一系统各种测量是可能,包括荧光发射、荧光激发、荧光动力学(强度和时间),荧光EEM,吸光度和%透光率。EZspec内的集合应用软件将这些转化为有形的结果也为例,建立浓度曲线,提供一种简单的、可定制的通过/失败,或者使用A280方法确定蛋白质浓度。

这不仅一分之二系统提供所有这一切在一个系统分析能力,而且它的双重性质确保可靠和正确的数据通过自动纠正内部过滤效果(款项)。没有这个,荧光数据容易出错!

内部过滤效果(个人)可以显著影响荧光发射光谱资料,扭曲他们的形状,将光谱峰值最大值的位置和降低排放强度。因此,当记录标准荧光谱仪、荧光检测到不符合真正的荧光发射的样本,即使对于小型荧光团浓度。这些荧光光谱扭曲可以显示的关键,照明和bioimaging应用可靠性和排放特性的精确知识是必需的。

这种扰动是观察荧光谱仪。然而,Duetta双重荧光和吸光度可以衡量真正的分子指纹,实时纠正为人生…所有眨眼的眼睛!

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