新的X射线荧光分析仪具有可选的触摸屏操作和较高的光谱探测器单元

光谱分析仪器引入了下一代XRF光谱仪器？在芝加哥Pittcon会议上的Spectro IQ II。

Spectro IQ于2005年推出，专门用于苛刻的过程控制应用。它使用偏振激发来对固体，粉末和液体样品进行多元分析，主要用于过程控制，其中快速分析，可靠的分析结果和简化的操作尤为重要。

Spectro IQ的最新版本超过了其前身，它易于操作并结合了源自较大，更强大的Spectro Xepos XRF仪器的新检测系统。

改进中有一个新的软件控制接口，该界面允许添加可选的触摸屏计算机。借助触摸屏和明确的结构化菜单，非技术人员仅使用几个命令开始，监视，评估和记录分析过程都没有问题。

除了其创新的控制软件外，SpectroIQI II还配备了新的硅漂移检测器单元，该单元在技术上是从检测器衍生在较大，更强大的Spectro Xepos XRF光谱仪中的。