布鲁克引入了两个新的电子显微镜分析配件

这项新产品简介进一步扩展了该公司在电子显微镜中的材料表征的高性能工具组合：

XSENSE™是一种新型的平行束波长色散X射线光谱仪（WDS），用于扫描电子显微镜（SEM）的元素分析。Xsense光谱仪专门为较低的能量范围设计，可将能量分辨率低至4 eV，从而使距离紧密间隔的X射线线和高度敏感的痕量元件检测能够出色地分离。

XSENSE™是一种新的微点X射线源，可在SEM系统上使用光子诱导的微X射线荧光（Micro-XRF）光谱法，并与Bruker的能量色散X射线光谱仪（EDS）检测器结合使用。与通常用于SEMS的元素分析的电子激发的X射线光谱法相比，Micro-XRF光谱法提供了检测的20至50倍，从而增加了检测和分析样品中痕量高Z元素的能力。

XSENSE WDS分析仪和Xtrace Micro X射线源均通过Bruker的ESPRIT 2.0（Bruker的新且独特的4 in-1分析软件套件）运行，该套件在单个用户界面下无缝集成了EDS，WDS，EBSD和Micro-XRF。

随着这些新产品的引入，布鲁克现在是只有提供五种技术的供应商，Eds，WDS，EBSD，Micro-XRF和Micro-CT，作为电子显微镜的高性能附加分析仪。