新全反射x射线荧光光谱仪S4 TStar®ICP -一个真正的替代品

S4 TStar^®是一个新的和独特的全反射x射线荧光光谱仪(TXRF) ultra-trace元素分析在广泛的应用领域,包括医药、食品和环境监测。的S4 TStar^®被专门设计来满足日益增长的需求在日益规范领域,如金属污染的检测或监测药品生产中催化剂元素根据新的欧盟和美国药典标准,新产品开发和质量控制在食品工业,包括原材料的可追溯性和验证在全球化的供应链,或废水中污染物的控制,料浆和废水。

的S4 TStar^®特性三个不同的x射线激励模式和一个高性能、大面积XFlash^®硅漂移探测器(SDD),以确保极低限制钠的检测所有元素铀。

自动换样器提供了一个总容量的九十个样本,可以使用10样品托盘装载。,这取决于应用程序专用的托盘可用于不同的反射样品载体,如石英片,显微镜载玻片或硅片。这种独特的灵活性,结合非常温和的需求在样品制备、S4 TStar^®最通用的工具大量样本的分析类型,包括解决方案,悬浮液,固体,晶圆,细胞培养、涂片和薄片。

独特的SampleCare^TMS4 TStar的概念^®,减少内部气流,一个特殊的集成样本住房和可折叠储物箱中,不断的在准备,防止样品污染传输和测量保护高数据质量。

的S4 TStar^®是专为连续24/7工业常规分析,支持多用户操作自动批处理以及无人值守操作,例如在一夜之间。软件允许关键阈值的定义或置信区间并提供警告,如果超出限制的关键。的S4 TStar^®也是第一次TXRF光谱仪,自动在后台运行质量控制程序,利用内部QA样品,监测和稳定至关重要的系统参数。

重大改进的检测极限,结合自动质量控制程序,强大的软件选项,和独特的多功能性的样本类型和运营商,S4 TStar^®设置新标准在性能、自动化和质量的台式TXRF谱,可以认为是一种有效的补充,或一个真正的选择,ICP-OES或icp。