实现更清晰的基于raman的微粒特征

WITec GmbH是一家该公司是拉曼显微镜技术领域的领先企业。该公司增强了其ParticleScout自动粒子分析工具，为发现、分类和识别微粒提供了更快的速度和更多功能。

ParticleScout现在包含了积分时间优化，使用信噪比来确定每个粒子被测量识别的时间。这不仅大大缩短了整体测量时间，而且还将荧光的影响降到最低。

WITec的市场总监Harald Fischer说:“ParticleScout的第一个版本是为了响应围绕拉曼光谱构建的微粒子分析系统的普遍需求。”“这一版本是由研究人员的直接反馈和他们在实验室的具体要求推动的，这些实验室专注于环境研究、食品科学、制药和许多其他应用。”

增强的ParticleScout增加了图像处理功能，如渐晕校正、智能缩放(根据查看的区域动态显示粒子信息)和多样本区域定位。这些便利由暗场、亮场、表观荧光和透射样品照明的集成和可能的组合来补充。

介绍了一种软件程序来加速圆形样品的测量，如包含均匀分布粒子的过滤器。它允许选择一个楔形截面进行分析，然后可以外推结果来表示整体。另一项创新是智能分离紧密相邻或接触的粒子。这对于密集的、非均匀的样品尤其有用。

使用WITec的TrueMatch™Raman数据库管理软件进行的数据后处理也得到了更新，包括识别混合光谱中单个组分的能力。命中质量指数(HQI)计算也优化了自动降噪和去除衬底光谱。这些进步使样品表征的精确度达到了一个新的程度。

最后，总结ParticleScout调查结果的定量报告现在可以使用预先配置的模板进行格式化，例如表格、柱状图直方图或饼图，以便清晰有效地表示数据。

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