• 用于研究和教育应用的新型x射线荧光分析仪在BCEIA 2013展示

质谱与光谱学

用于研究和教育应用的新型x射线荧光分析仪在BCEIA 2013展示

2013年11月07

在10月23-26日于北京展览中心举行的北京仪器分析会议和展览会(BCEIA)上,PANalytical公司举行了一场展览,标志着新型Epsilon 1 XRF (x射线荧光)分析仪的推出。Epsilon 1被设计为同类中最强大的台式XRF光谱仪,为一系列元素分析应用提供了紧凑和经济有效的“开箱即开”,预校准的分析解决方案。在整个活动中,专家们都在现场回答有关Epsilon 1仪器和PANalytical展台的应用范围的问题。

用于研究和教育的新Epsilon 1提供了预编程的“开箱即用”XRF分析,从简单的元素识别和量化到更复杂的分析。设计良好的光路、高灵敏度的SDD探测器系统和广泛的激发能力(轻重元素从10到50 kV)使Epsilon 1能够轻松地执行这些关键的分析程序。Epsilon 1的设计考虑到操作的简单性,使PANalytical的高标准性能可用于广泛的操作,从学术研究实验室到学院和大学班级。

“Epsilon 1旨在提供最易访问的高性能XRF系统,”panalysis公司营销总监Pieter de Groot评论道。“这个完整的解决方案包提供了高质量和灵活的分析,使其同样适用于研究项目和教学。从经验丰富的x射线荧光专家到完全不熟悉该技术的大学生,Epsilon 1在设计时考虑到了操作的易用性,为一系列用户提供了易于访问的预校准EDXRF分析。”

欲了解更多关于PANalytical创新的x射线分析技术和附加分析解决方案的信息,请访问PANalytical网站。