新的螺栓连接SIMS/SNMS设施

Hiden SIMS螺栓式质谱仪和离子枪使完整的SIMS设施可以添加到各种分析特高压表面分析设施中，最新的Hiden EQS探针现在提供了集成的SNMS模式，以提供溅射中性和二次离子质谱的双重作用。这种双重技术有利于光学和冶金涂层、合金、腐蚀层和建筑涂层的测量，例如，可以直接定量的浓度范围从痕量到100%。

在探针直接进入区域的高透明度电子冲击电离器确保溅射中性离子的有效电离和二次离子的最佳传输效率。SIMS和SNMS都可以在连续的测量序列中进行组合，在最宽的浓度范围内提供量化的深度剖面数据。完整的产品范围包括气体和金属离子枪。探测器和离子枪都需要一个直径仅为38毫米(1.5英寸)的腔体安装端口。