用F7100简化荧光指纹(EEM)

荧光指纹的激发发射矩阵(EEM)方法是快速和简单的使用日立F7100荧光指纹测量和识别系统Lambda先进技术。该系统使用多变量软件进行3D扫描分析，只需2-3分钟即可获得荧光指纹。在3D扫描过程中发射的荧光强度取决于激发波长和发射波长。通过将这3个参数绘制成航拍图或等高线图，可以获得荧光指纹。该软件从指纹中分类信息，如成分，浓度和环境负荷，用于检查纯度，原材料异常，混合物成分，由于有机降解的新鲜度，或确定原产地等。可以对液体或固体样品进行分析，该系统可用于许多行业:

• 食品(水果、蔬菜、谷物、肉类、鱼类、食用油、饮料等)
• 制药(原药鉴定、微生物等)
• 工业(树脂、粘合剂、矿物油、油漆、染料、洗涤剂等)
• 印刷(纸张、油墨等)
• 环境(河水、湖水、海水、土壤、植物等)

高速数据采集和处理

3D EMM扫描产生成千上万的数据点用于分析和F7100-based系统由于其最快的扫描速度(60000纳米/分钟)，提供了快速和准确的数据采集。它还具有高速扫描响应过程的自动设置，快速激发波长切换和一个滤光附件，自动消除高阶光的影响，这将影响测量精度。数据直接传输到3D SpectAlyze统计多元分析软件，该软件可以自动选择最佳波长来区分样本组分，计算识别库的公式，从多个组分中分辨峰值，等等。

样品制备最少，易于分析

由于荧光指纹分析测量的是样品本身所具有的荧光，因此几乎不需要对样品进行预处理，如研磨、溶解或过滤。水果碎片或生肉等样本可以直接分析，这意味着即使是没有经验的分析师也可以使用该系统。首先从具有已知特征(如原产地)的样品中收集荧光指纹。该软件执行多变量分析，从这些样本中创建一个包含更少变量的“识别模型”，并保存在参考库中。然后用同样的方法获取未知样品的荧光指纹并进行处理，软件将其与参考文献进行比较，完成分析。

应用程序包括:

• 检查原料的降解状态，控制过期时间
• 检测异常原料
• 检验出货产品(身份确认)
• 按成分分类
• 简单的合格-不合格质量控制
• 识别标签错误的产品

多功能样品处理

除了基本系统，EEM Multi还具有98孔微板附件和粉末样品指南，用于液体或粉末样品的连续测量。对于大型、不规则形状的样品，EEM Direct允许使用光纤进行测量。

点击这里以了解更多关于日立F7100荧光指纹测量与识别系统的资料。