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新软件将粒子置于不同的光线下
2011年9月9日
Malvern Instruments发布了该公司Morphologi G3颗粒表征系统的新版本软件。这种全自动的基于图像分析的系统提供了干湿样品的颗粒大小和形状信息,并用于分析过滤器上收集的外来颗粒物。
在7.40版本软件中的新应用程序中,包括用户定义的光设置和自动暗场测量,进一步扩展了Morphologi G3的应用程序范围。新的重新分析功能可以应用过滤器,类和数据重新组合到多个记录,以提高生产力和工作流程。
使用新软件,Morphologi G3用户现在可以在标准操作程序(SOP)中更紧密地定义自己的光设置,允许暗场和偏振器测量。版本7.40软件还引入了多边形选择工具,用于更严格地定义大小和形状类,以及圆形区域选择工具,用于更准确地分析过滤器上的颗粒。
Morphologi G3自动颗粒表征系统可在一次测量中为数百个颗粒提供具有统计学意义的高质量图像数据。